紅外分光光度計采用一個可以產生多個波長的光源，通過系列分光裝置，從而產生特定波長的光源，光源透過測試的樣品后，部分光源被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度。樣品的吸光值與樣品的濃度成正比。用一定頻率的紅外線聚焦照射被分析的試樣，如果分子中某個基團的振動頻率與照射紅外線相同就會產生共振，這個基團就吸收一定頻率的紅外線，把分子吸收的紅外線的情況用儀器記錄下來，便能得到全面反映試樣成份特征的光譜，從而推測化合物的類型和結構。IR譜主要是定性技術，但是隨著比例記錄電子裝置的出現(xiàn)，也能迅速而準確地進行定量分析。
我們以測定粉塵中游離二氧化硅的含量為例，說說其實驗方法：
一、樣品的采集
現(xiàn)場樣品采集按GBZ 159《工作場所空氣中有害物質監(jiān)測采樣規(guī)范》執(zhí)行。
二、樣品處理
1、沉降塵處理：粉塵樣品放在105℃±3℃的烘箱內干燥2h，稍冷，貯于干燥器備用。如果粉塵粒子較大，需用瑪瑙研缽研磨，并用200目篩子篩選。準確稱取篩選后的樣品質量（m）置于高溫電爐（低于600℃）內灰化30min，冷卻后，放入干燥器內待用；
2、濾膜樣處理：用差減法準確稱量采樣后濾膜（過氯乙烯濾膜）上粉塵的質量（m），然后放入瓷坩堝內，置于高溫電爐（低于600℃）內灰化30 min，冷卻后，放入干燥器內待用；
3、稱取一定量的溴化鉀（使溴化鉀和粉塵總質量為250mg）放入瓷坩堝內和灰化后的粉塵充分混勻，連同壓片磨具一起放入干燥箱（110±5℃）中10 min。將干燥后的混合樣置于壓片磨具中，加壓20MPa，持續(xù)3 min，制備出的錠片作為測定樣品。對于濾膜樣，須同時取空白濾膜一張，同上處理，制成樣品空白錠片。
三、石英標準曲線的繪制
準確稱取10.00 mg標準α-SiO2與990.00 mg溴化鉀放入瑪瑙研缽中，加入一定量的無水酒精，進行濕式研磨。充分研磨后進行烘干，配制成10 μg/mg標準α-SiO2混合樣。準確稱取不同質量（含標準α-SiO2：0.01mg～1.00 mg）的標準α-SiO2混合樣，混入研磨好的溴化鉀，使其總質量達到250 mg，制成錠片進行檢測。根據(jù)α-SiO2對800、780、694cm-1波數(shù)的紅外光具有特異性強的吸收帶，以標準α-SiO2質量為橫坐標，800 cm-1吸光值減去830 cm-1吸光值為縱坐標，繪制標準曲線，并求出標準曲線的回歸方程。
四、樣品的測定
分別將樣品錠片與樣品空白錠片進行掃描，記錄830、800 cm-1處的吸光值，由α-SiO2標準曲線得樣品和空白錠片中游離二氧化硅的質量。
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